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- 日本HORIBA红外线防爆分析仪TIA-51d/51p
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确保安全的*技术
防爆型气体分析仪诞生
使用凝聚了HORIBA在气体分析方面成熟*技术的防爆型系列气体分析仪。它可对可燃性气体,爆炸性氛围下的气体提供安全并正确的分析环境。为了进一步追求安全性,分析仪装备了考虑到良好监控性、精准操作性的界面。同时还具备对应IEC标准和通信功能(选配功能),使长期前瞻性活用变为可能。以通用型过程用红外线气体分析仪为代表,也具备可以对应氧气、氢气的各机型,丰富的产品线可适用各类用途。一如既往地在追求安全的环境下,在气体分析领域提供优质服务。
开发理念:
对应多种分析需求
易于使用的用户界面
符合IEC标准、具备通信功能
隔爆型防爆:项目 注释 备注 Ex 符合标准 d 防爆结构分类 d:隔爆型防爆结构 ⅡB+H2 设备类型 ⅡB+H2:矿井以外工厂 被允许涉及ⅡB类爆炸性气体以及氧气 T4 温度组别 T4:zui高表层温度135℃
内压型防爆:项目 注释 备注 Ex 符合标准 P 防爆结构分类 P:内压型防爆结构 Ⅱ 设备类别 Ⅱ:矿井以外工厂 T4 温度组别 T4:zui高表层温度135℃ X 特别使用条件 项目 注释 备注 Ex 符合标准 Pxd 防爆结构分类 P:内压型防爆结构【PX方式】(容器) d:隔爆型防爆结构(传感器部位) ⅡC 设备类别 ⅡC:矿井以外工厂 被允许涉及ⅡC类爆炸性气体 T4 温度组别 T4:zui高表层温度135℃ X 特别使用条件 测定原理:
EIA-51d/51p·TIA-51d/51p:非分散红外吸收法(干涉修正型)
测定原理:干涉修正型就是利用图示红外线气体分析仪原理,尤其是对含有大量干涉成分的样气,能够得到极其精准的测定值的*方式。在标准型的几本结构的基础上,干涉修正型需要在同一光学系统上并列配置上测定用检测器和修正用检测器。
通过这样可大大减轻以下影响:
①样气中其他成分造成的干涉影响
②外部的震动等产生的外部影响
③光源部分、检测池老化等造成的漂移
技术规格 型号 EIA-51d EIA-51p TIA-51d TIA-51p 防爆构造 防爆型防爆构造
Exd ll B+H2T4内压型防爆构造
Exp ll T4X隔爆型防爆构造
Exd ll B+H2T4内压型防爆构造
Exp ll T4X检测原理 非分散红外吸收法 检测组分 CO、CO2、CH4等*4 量程 zui小量程 0-0.11vol%(因成分而不同) 0-50ppm(因成分而不同) zui大量程 0-100vol%(因成分而不同) 0-2000ppm(因成分而不同) 可选量程 100-90~50vol%(因成分而不同) 0-20~50ppm未满(因成分而不同) — zui大量程数 — — zui大量程比 — — 性能 重复性 标准量程 零点:±0.5%F.S.
量程:±0.5%F.S.标准量程 零点:±0.5%F.S.
量程:±0.5%F.S.标准量程 零点:±0.5%F.S.
量程:±0.5%F.S.标准量程 零点:±1.0%F.S.
量程:±1.0%F.S.线性 ±1.0%F.S. 漂移*1 零点:±2.0%F.S./week
量程:±2.0%F.S./week— 响应时间(分析仪入口开始) T90=20秒以内(可选量程:T90=40秒以内) 样气 组成 隔爆型防爆
构造.氧气浓度21%以下,没有灰尘、没有湿气
.设备分类 ll B、对应温度组别T4的气体.蒸汽-空气混合物以及氧气-空气混合物具有同等以下危险的气体。隔爆型防爆
构造.氧气浓度21%以下,没有灰尘、没有湿气
.具备与温度组别T4的气体.蒸汽-空气混合物具有同等以下着火点。压力 1.98kPa以上 流量 500ml/分 温度 周围温度 排放点 大气排放 接触样气的零部件材质 SUS304、SUS315、FKM、CaF-、Au等 校正方式 标准:手动校正 选配:自动校正 模拟输出 输出内容 浓度输出:1ch 输出规格 绝缘输出:DC 4-20mA(DC 0-16mA/0-20mA、DC 0-1V/0-5V/1-5V/0-10V为选配规格)负荷电阻:750 以下 模拟值警报 可以在输出电流/电压跨幅的-10%到+110%范围内任意设定 接点输出输入(选配) Och 通信
(选配功能)※2接口 RS-485 通信协议 Modbus-RTU 通信速度 可从19200bps/9600bps/4800bps/2400bps/1200bps中选择 设置环境 设置场所 设置在室内 周围温度 —5~40摄氏度(避免阳光直射、热辐射) 相对湿度 90%以下 振动 避免设置在水泵、风扇等振动较大的物体附近(100Hz、0.3m/s2以下) 粉尘 环境基准以下 实用 载气 组成:氮气、压力196~690kPa、流量:扫气时10L/分、运转时0.5L/分